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X熒光光譜儀（XRF），由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。XRF 的工作原理是：X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。X熒光光譜儀以其絕對(duì)優(yōu)勢(shì)，目前占據(jù)了市場(chǎng)份額的主要成分。接下來，小編就給大家分析下這款光譜儀界的“新寵”有哪些優(yōu)缺點(diǎn)。
優(yōu)勢(shì)分析：
1.分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2.X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
3.非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5.分析精密度高。
6.制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
劣勢(shì)分析：
a)難于作絕對(duì)分析，故定量分析需要標(biāo)樣。
b)對(duì)輕元素檢測(cè)的靈敏度要低一些。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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